国際交流

フランスのエンジニアリングスクールであるMines De Saint-EtienneのAix-Marseille-Provence Georges Charpakキャンパスに2025年11月と2026年1月の2度、計10日間滞在し、ハードウェアセキュリティ分野における故障注入攻撃に対し幅広い実測に関する取り組みを行っているJean-Max Dutertre教授との共同研究を行った。

本共同研究ではプリント基板にメタルパターンを配置し、プリント基板に対して電磁波照射を行うことによるメタルパターン内の電圧変動解析を行う共同実験を実施した。1度目の滞在では事前に日本で設計・製造したプリント基板をフランスへ郵送し、実験環境の構築と初期評価を行い、2度目の滞在では1度目の滞在時の評価結果を踏まえて行ったシミュレーションによる解析結果をもとにプリント基板を用いた詳細評価を行った。また、各滞在の前後にはオンラインでのミーティングを重ね、取り組みに対する継続的な議論を進めた。今回の滞在では現地のポスドクと密に連携し実験を進めることで、電磁波照射による故障注入攻撃を実測で評価することに対する新たな知見を得ることができた。 今後は、2回の滞在による共同実験結果を踏まえた国際学会への投稿に向けて引き続き取り組みを進めていく。